復(fù)納科學(xué)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)預(yù)告：SEM/TEM離子束制樣新技術(shù)

​隨著電子顯微技術(shù)的不斷進(jìn)步，如何高效、精確地制備高質(zhì)量的薄片已成為材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法，聚焦離子束（FIB）技術(shù)雖被廣泛應(yīng)用，但在使用過(guò)程中會(huì)涉及到高能離子及 Ga 的使用，這可能引入不必要的離子注入。為了克服這一局限性，寬離子束（BIB）技術(shù)逐漸受到關(guān)注，并展現(xiàn)出其在降低損傷、提高樣品質(zhì)量方面的優(yōu)勢(shì)。

為了更好地理解和應(yīng)用 BIB 技術(shù)，我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您參加本次專題研討會(huì)。

Part.1.會(huì)議詳情
會(huì)議時(shí)間
2025 年 10 月 17 日（周五）10:00-12:00
參與方式
線上參會(huì)
報(bào)名方式
識(shí)別下方二維碼，即可報(bào)名參會(huì)

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